Guía de Prácticas: Control de Procesos
Por: Dr. Zevallos Gonzales, Wilbert Felipe | [Autor].
Colaborador(es): Dr. Zevallos Gonzales, Wilbert Felipe.
Editor: PERU ; UNIVERSIDAD CATOLICA DE SANTA MARIA ; 2021Edición: 1A. ed.Descripción: 82; 29.3.Tema(s): PROCESOS INDUSTRIALESClasificación CDD: 660.2815.ZEVA.01
Contenidos:
Introducción
. -- Descripción de Datos
. -- Medidas de Tendencia Central y Dispersión
. -- Distribuciones de Probabilidad Discreta
. -- Distribuciones de Probabilidad Continua
. -- Distribución Maestral de la Media
. -- Pruebas de Hipótesis
. -- Gráficas de Control por Variables X y R
. -- Graficas de Control por Variables X y S
. -- Capacidad de Proceso
. -- Gráficas de Control por Atributos Np y P
. -- Gráficas de Control por Atributos C y U
| Tipo de ítem | Ubicación actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Libros | Biblioteca Central | BIBCE-CSING (Biblioteca Central - 1er piso) | 660.2815.ZEVA.01 (Navegar estantería) | 1e. | Disponible | 68968 | |
| Libros | Biblioteca Central | BIBCE-CSING (Biblioteca Central - 1er piso) | 660.2815.ZEVA.01 (Navegar estantería) | 2c. | Disponible | 68969 |
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| 660.2815.SHIN.00 SISTEMAS DE CONTROL DE PROCESOS. 2 TOMOS | 660.2815.SHIN.00 SISTEMAS DE CONTROL DE PROCESOS. 2 TOMOS | 660.2815.ZEVA.00 CONTROL DE PROCESOS | 660.2815.ZEVA.01 Guía de Prácticas: Control de Procesos | 660.2815.ZEVA.01 Guía de Prácticas: Control de Procesos | 660.2832.FOGL.00 ELEMENTOS DE INGENIERÍA DE LAS REACCIONES QUÍMICAS 4TA EDIC IN CD ROM | 660.2832.LEVE.00 INGENIERÍA DE LAS REACCIONES QUÍMICAS 3RA EDIC |
Introducción
. -- Descripción de Datos
. -- Medidas de Tendencia Central y Dispersión
. -- Distribuciones de Probabilidad Discreta
. -- Distribuciones de Probabilidad Continua
. -- Distribución Maestral de la Media
. -- Pruebas de Hipótesis
. -- Gráficas de Control por Variables X y R
. -- Graficas de Control por Variables X y S
. -- Capacidad de Proceso
. -- Gráficas de Control por Atributos Np y P
. -- Gráficas de Control por Atributos C y U
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